HIOKI ST9000 방전검출기능
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HIOKI ST9000 방전검출기능
HIOKI ST9000 DISCHARGE DETECTION UPGRADE
- ST4030용 기능 추가 옵션
- 노이즈에 묻힌 "미약한 부분방전"을 검출함으로써 모터 권선 간의 절연불량(유사 쇼트)를 알 수 있다
- HIOKI 오리지널 필터 탑재※ ※ 응답파형에 나타나는 고주파성분 중 파형 전체에 나타나는 성분을 제거해 부분방전분만큼을 추출해 판정. AISIN AW CO., LTD.사와 공동 개발
- 주변설비 (방전검출용 안테나 등）없이 손쉽게 방전 검출
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히오키 ・ HIOKI
ST9000
배터리 방전검출기능
ST9000 DISCHARGE DETECTION UPGRADE
제품번호 (발주 코드)
| ST9000 | ST4030용 공장 출하 시 옵션 |
방전검출기능 ST9000은 임펄스 권선시험기 ST4030의 공장 출하 옵션입니다. 추가를 원하시면 발주시에 지정해 주십시오.
임펄스 권선 시험기 ST4030 사용법임펄스 권선 시험기 ST4030은 모터의 인덕터(코일) 등에서 발생하는 권선 간 레이저 쇼트의 유무를 시험합니다. 양품에 임펄스 전압을 인가했을 때의 마스터 파형을 기준으로, 지정한 구간의 "마스터 파형"과 "시험파형"의 어긋남을 면적으로 비교하여 양품판정을 내리는 방법과, 새롭게 제안드리는 "응답파형의 수치화"를 통해 1턴 쇼트 검출을 가능케 한 양품과 불량품의 분포의 어긋남으로부터 양불판정을 내리는 방법을 이용한 임펄스 권선 시험기의 사용법을 소개합니다. |
임펄스 권선 시험기 ST4030 소개영상임펄스 권선 시험기 ST4030은 응답파형으로부터 특징량 LC・RC를 확인. 회로 정수값으로써 정량적으로 취급할 수가 있어, 판정 임계값을 수치 데이터를 바탕으로 명확하게 결정할 수가 있습니다. 또한, 시험결과가 수치로 나타나므로 시험결과로부터 통계적 품질관리방법을 이용한 여러 활동에 활용할 수 있습니다. 각 턴 쇼트의 축적 데이터를 이전공정에 피드백시킴으로써권선의 불량상태를 추정하고, 재발방지로 이어나갑니다. |
고정밀도 파형 검출양품, 불량품의 차이를 알기 어려웠던 미묘한 응답파형의 변화를 고정밀도로 검출. |  |
판정이 어려웠던 수 턴 쇼트의 검출 가능지금껏 판정이 어려웠던 수 턴 쇼트의 차이도 응답파형을 수치화하면 양불 판정이 가능. |  |
로터 조립 상태에서 임펄스 시험이 가능로터를 모터 stator 에 조립한 상태에서는 로터의 조립 위치에 따라 로터와 스테이터 사이에 부유 용량이 변화합니다. 따라서 임펄스 시험에서 얻게되는 응답파형이 변화하기 때문에 기존의 파형 비교 방식을 이용할 수가 없었습니다. 응답파형을 수치화한 LC・RC 값 또한, 응답파형의 변화에 따라 바뀌지만, 양품, 불량품에서는 그 분포가 다릅니다. ST4030은 양품, 불량품 판정 영역을 작성하여 로터를 조립한 상태에서 임펄스 시험이 가능합니다. |  |
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방전검출기능 ST9000은 임펄스 권선시험기 ST4030의 공장 출하 옵션입니다. 추가를 원하시면 발주시에 지정해 주십시오.
임펄스 권선 시험기 ST4030 사용법임펄스 권선 시험기 ST4030은 모터의 인덕터(코일) 등에서 발생하는 권선 간 레이저 쇼트의 유무를 시험합니다. 양품에 임펄스 전압을 인가했을 때의 마스터 파형을 기준으로, 지정한 구간의 "마스터 파형"과 "시험파형"의 어긋남을 면적으로 비교하여 양품판정을 내리는 방법과, 새롭게 제안드리는 "응답파형의 수치화"를 통해 1턴 쇼트 검출을 가능케 한 양품과 불량품의 분포의 어긋남으로부터 양불판정을 내리는 방법을 이용한 임펄스 권선 시험기의 사용법을 소개합니다. |
임펄스 권선 시험기 ST4030 소개영상임펄스 권선 시험기 ST4030은 응답파형으로부터 특징량 LC・RC를 확인. 회로 정수값으로써 정량적으로 취급할 수가 있어, 판정 임계값을 수치 데이터를 바탕으로 명확하게 결정할 수가 있습니다. 또한, 시험결과가 수치로 나타나므로 시험결과로부터 통계적 품질관리방법을 이용한 여러 활동에 활용할 수 있습니다. 각 턴 쇼트의 축적 데이터를 이전공정에 피드백시킴으로써권선의 불량상태를 추정하고, 재발방지로 이어나갑니다. |
고정밀도 파형 검출양품, 불량품의 차이를 알기 어려웠던 미묘한 응답파형의 변화를 고정밀도로 검출. | |
판정이 어려웠던 수 턴 쇼트의 검출 가능지금껏 판정이 어려웠던 수 턴 쇼트의 차이도 응답파형을 수치화하면 양불 판정이 가능. | |
로터 조립 상태에서 임펄스 시험이 가능로터를 모터 stator 에 조립한 상태에서는 로터의 조립 위치에 따라 로터와 스테이터 사이에 부유 용량이 변화합니다. 따라서 임펄스 시험에서 얻게되는 응답파형이 변화하기 때문에 기존의 파형 비교 방식을 이용할 수가 없었습니다. 응답파형을 수치화한 LC・RC 값 또한, 응답파형의 변화에 따라 바뀌지만, 양품, 불량품에서는 그 분포가 다릅니다. ST4030은 양품, 불량품 판정 영역을 작성하여 로터를 조립한 상태에서 임펄스 시험이 가능합니다. | |
