ROHDE & SCHWARZ ADVANCED EYE 분석 소프트웨어
가격문의(상세정보 참조)
ROHDE & SCHWARZ ADVANCED EYE 분석 소프트웨어ROHDE & SCHWARZ ADVANCED EYE ANALYSIS SOFTWARE
- 구성 가능한 16 Gbps HW-CDR(Hardware Implemented Clock Data Recovery)
- 최대 4개 아이 다이어그램
- 고급 자동 아이 측정 기능 모음
- 포괄적 마스크 라이브러리
- 실시간 디퍼런셜 연산과 실시간 디임베딩 결합 가능
클릭 하시면 이동합니다.
로데 슈바르즈 ・ ROHDE & SCHWARZ
ADVANCED EYE 분석
소프트웨어
ADVANCED EYE ANALYSIS SOFTWARE
R&S®RTP-K136/137은 데이터 신호의 아이 분석을 수행하는 옵션이며 가장 강력한 신호 무결성 측정 툴 중 하나입니다. 연속적으로 실행되는 하드웨어 기반 CDR(Clock Data Recovery)을 사용하여 획득한 데이터 스트림을 비트 단위로 분할합니다. 선택한 옵션에 따라 최대 8 Gbps 또는 16 Gbps의 일반 데이터 레이트를 지원합니다. 아이 다이어그램에 마스크 테스트, 히스토그램 테스트, 자동 아이 측정과 같은 표준 툴을 적용할 수 있습니다. 강력한 아이 스트라이프 기능을 사용하면 획득한 파형에서 마스트 테스트 오류를 추적할 수 있습니다.
구성 가능한 하드웨어 CDR
R&S®RTP는 임베디드 클록을 적용해 직렬 데이터 스트림을 비트 단위로 분할하기 위한 고유한 HW-CDR(Hardware Implemented Clock Data Recovery)을 제공합니다. 일반 비트 레이트(21 kbps ~ 16 Gbps)와 추적 대역폭 또는 상대적 대역폭을 구성할 수 있습니다. R&S®RTP의 하드웨어 CDR은 입력 신호의 편차를 계속해서 따라갑니다. 기존 아이 다이어그램은 포스트 프로세싱에서 소프트웨어 CDR 기능을 사용합니다. 이 기능은 많은 시간이 소요되며 파형을 획득할 때마다 PLL 안정화 시간이 필요합니다. |
구성 가능 HW-CDR 셋업 대화상자 R&S®RTP에서 구성 가능한 하드웨어 클록 데이터 복구는 데이터 아이 분석을 위해 최대 16 Gbps의 데이터 레이트를 지원합니다 |
자동 아이 측정
자동 측정으로 고급 아이 분석을 쉽게 수행할 수 있습니다. 15가지 범주에서 아이 측정을 선택하고 통계, 추적, 히스토그램, 트렌드 표시와 같은 표준 분석 기능을 모두 활용합니다. |
자동 아이 측정 고급 자동 아이 측정 기능 모음 중에서 선택 |
포괄적 마스크 라이브러리 추가 분석을 위해 히스토그램과 마스트 테스트 기능을 사용할 수 있습니다. 포괄적 마스크 라이브러리는 아이 다이어그램에도 사용할 수 있습니다. USB, PCI Express, SATA 등 전용 표준에 적합한 사전 정의 마스크를 선택합니다. |
아이 스트라이프
아이 스트라이프 기능을 사용하여 원래 획득한 파형에서 마스트 테스트 오류를 식별합니다. 마스크 테스트 오류 목록을 이용해 마스크를 위반한 파형의 일부를 확대/축소 창으로 확인할 수 있습니다. 따라서 신호 무결성 문제의 근본 원인을 쉽게 파악할 수 있습니다. |
Advanced Eye RTP-K136 R&S Advanced Eye ROHDESCHWARZ Advanced Eye ROHDE-SCHWARZ Advanced Eye 로데슈바르즈 Advanced Eye 로데슈바르츠 Advanced Eye Advanced Eye R&S Advanced Eye ROHDESCHWARZ Advanced Eye ROHDE-SCHWARZ Advanced Eye 로데슈바르즈 Advanced Eye 로데슈바르츠
가격이 궁금하신가요?
더 많은 자료는?
클릭 하시면 이동합니다.
로데 슈바르즈 ・ ROHDE & SCHWARZ
ADVANCED EYE 분석
소프트웨어
ADVANCED EYE ANALYSIS SOFTWARE
R&S®RTP-K136/137은 데이터 신호의 아이 분석을 수행하는 옵션이며 가장 강력한 신호 무결성 측정 툴 중 하나입니다. 연속적으로 실행되는 하드웨어 기반 CDR(Clock Data Recovery)을 사용하여 획득한 데이터 스트림을 비트 단위로 분할합니다. 선택한 옵션에 따라 최대 8 Gbps 또는 16 Gbps의 일반 데이터 레이트를 지원합니다. 아이 다이어그램에 마스크 테스트, 히스토그램 테스트, 자동 아이 측정과 같은 표준 툴을 적용할 수 있습니다. 강력한 아이 스트라이프 기능을 사용하면 획득한 파형에서 마스트 테스트 오류를 추적할 수 있습니다.
구성 가능한 하드웨어 CDR
R&S®RTP는 임베디드 클록을 적용해 직렬 데이터 스트림을 비트 단위로 분할하기 위한 고유한 HW-CDR(Hardware Implemented Clock Data Recovery)을 제공합니다. 일반 비트 레이트(21 kbps ~ 16 Gbps)와 추적 대역폭 또는 상대적 대역폭을 구성할 수 있습니다. R&S®RTP의 하드웨어 CDR은 입력 신호의 편차를 계속해서 따라갑니다. 기존 아이 다이어그램은 포스트 프로세싱에서 소프트웨어 CDR 기능을 사용합니다. 이 기능은 많은 시간이 소요되며 파형을 획득할 때마다 PLL 안정화 시간이 필요합니다. |
구성 가능 HW-CDR 셋업 대화상자 R&S®RTP에서 구성 가능한 하드웨어 클록 데이터 복구는 데이터 아이 분석을 위해 최대 16 Gbps의 데이터 레이트를 지원합니다 |
자동 아이 측정
자동 측정으로 고급 아이 분석을 쉽게 수행할 수 있습니다. 15가지 범주에서 아이 측정을 선택하고 통계, 추적, 히스토그램, 트렌드 표시와 같은 표준 분석 기능을 모두 활용합니다. |
자동 아이 측정 고급 자동 아이 측정 기능 모음 중에서 선택 |
포괄적 마스크 라이브러리 추가 분석을 위해 히스토그램과 마스트 테스트 기능을 사용할 수 있습니다. 포괄적 마스크 라이브러리는 아이 다이어그램에도 사용할 수 있습니다. USB, PCI Express, SATA 등 전용 표준에 적합한 사전 정의 마스크를 선택합니다. |
아이 스트라이프
아이 스트라이프 기능을 사용하여 원래 획득한 파형에서 마스트 테스트 오류를 식별합니다. 마스크 테스트 오류 목록을 이용해 마스크를 위반한 파형의 일부를 확대/축소 창으로 확인할 수 있습니다. 따라서 신호 무결성 문제의 근본 원인을 쉽게 파악할 수 있습니다. |
Advanced Eye RTP-K136 R&S Advanced Eye ROHDESCHWARZ Advanced Eye ROHDE-SCHWARZ Advanced Eye 로데슈바르즈 Advanced Eye 로데슈바르츠 Advanced Eye Advanced Eye R&S Advanced Eye ROHDESCHWARZ Advanced Eye ROHDE-SCHWARZ Advanced Eye 로데슈바르즈 Advanced Eye 로데슈바르츠
