LECROY T3SP15D 시간 영역 반사계
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LECROY T3SP15D 시간 영역 반사계
LECROY T3SP15D Time Domain Reflectometers
Teledyne 테스트 도구 T3SP15D 트루 차동 신호로 DUT를 자극합니다. T3SP15D는 35ps의 빠른 상승 시간을 펄스를 사용하며, 최대 40m의 길이의 DUT, 최대 10 MHz의 TDR 반복 속도에서 3mm의 길이 임피던스 분해능(FR40에서)으로 DUT 측정이 가능하며 벡터 네트워크 분석기와 동일한 OSLT(Open Short Load Thru) 교정 표준을 사용합니다. 소형 폼 팩터, 가벼운 무게 및 내부 배터리 옵션을 갖춘 이 기기는 저렴한 가격으로 실험실이나 현장 어디든지 휴대할 수 있습니다.
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르크로이 ・ LECROY
T3SP15D
시간 영역 반사계
T3SP15D Time Domain Reflectometers
- <3mm 공간 분해능의 트루 차동 TDR
- 소형 폼 팩터 및 배터리 구동
- 최대 15GHz의 S-파라미터
- 35ps 상승 시간
- 최대 50,000포인트의 긴 메모리
- 시리얼 데이터 표준 테스트
- True-Differential Time Domain Reflectometers (TDRs)
최신 고속 설계의 대부분은 차동 전송 라인으로 구현됩니다. True differential TDR을 사용하면 이러한 설계에서 신호 무결성 측정을 위한 설정이 간소화됩니다. 일부 시나리오에서는 비차폐 연선 케이블을 측정하려는 경우 접지 연결을 연결하기 어렵거나 액세스할 수 없을 수 있습니다. 대부분의 경우 실제 차동 TDR을 사용하여 측정할 때 접지 연결이 필요하지 않으며 접지 연결 없이 TDR 프로브를 사용할 수 있는 유연성을 제공합니다.
- 빠른 TDR 반복 속도
최대 10MHz 반복 속도로 T3SP-시리즈는 샘플링 오실로스코프를 기반으로 하는 기존 TDR 장비보다 300배 이상 빠릅니다. 가능한 가장 높은 동적 범위를 달성하기 위해 TDR 장비는 수백 개의 파형을 획득하고 평균화해야 합니다. 더 빠른 샘플링 속도는 더 빠르고 정확한 측정 결과를 제공합니다.
- 완전히 캘리브레이션된 임피던스 플롯
모든 TDR 기기의 기준 임피던스는 상대적입니다. 반사 신호의 크기와 입사 신호의 크기를 비교하여 생성됩니다. OSLT 캘리브레이션을 모두를 사용하여 T3SP-시리즈는 시간 및 주파수 영역에서 임피던스 측정에 최고의 정확도를 제공합니다. 3 가지 교정 표준(Open, Short, Load, Thru)을 사용합니다. 일반적인 TDR 장비에서 사용되는 간단한 정규화를 사용하는 OSLT 캘리브레이션을 사용함으로써 시간 영역에서 설정에 대한 오류 수정이 크게 개선되었습니다. 시간 영역에서 OSLT 보정을 사용하면 TDR 인시던트 단계 후에 발생하는 링잉과 같은 임피던스 플롯의 불규칙성을 방지할 수 있습니다.
- 완전히 캘리브레이션된 S-파라미터
이더넷 또는 USB와 같은 많은 최신 표준에서는 주파수 영역 내에서 케이블 및 커넥터의 임피던스 정합을 측정해야 합니다. 이는 기존 VNA 장비로 일반적으로 수행되는 조치입니다. 그만큼 T3SP series는 최대 15GHz까지 완전히 캘리브레이션된 차동 S-파라미터 측정을 제공합니다(T3SP15D) VNA에서 사용하는 것과 동일한 OSLT 캘리브레이션 키트를 사용합니다.
- 즉각적인 케이블 테스트 및 긴 메모리
케이블이 완벽하다고 가정하는 것은 흔한 실수입니다. 케이블의 품질을 확인하지 않은 경우 프리미엄 케이블에도 측정 아티팩트를 일으킬 수 있는 결함이 있을 수 있습니다. 그만큼 T3SP 시리즈는 손상이나 결함으로 인해 사양을 벗어난 부품을 식별하여 케이블의 품질을 즉시 보여줍니다. SP 시리즈는 긴 DUT에서 고해상도로 긴 TDR 레코드 캡처를 제공하는 최대 50.000포인트를 획득할 수 있습니다. 또한 최대 10m 길이의 케이블을 사용하여 TDR 반복 속도를 1MHz에서 40MHz로 유연하게 변경할 수 있습니다.
- ESD 보호
고주파 측정 장치는 정전기 방전(ESD)에 극도로 민감하여 측정 장치에 영구적인 손상을 줄 수 있습니다. 또한 많은 실험실에서는 ESD로 인한 손상으로부터 전자 장비를 보호하기 위해 특별한 예방 조치를 취해야 합니다. SP 시리즈는 이러한 상황으로부터 더 높은 수준의 보호를 제공하여 이러한 위험을 완화합니다. 모든 SP 시리즈 모델에는 고성능 동축 RF 스위치를 기반으로 하는 ESD 보호 모듈이 장착되어 있습니다. 이것이 작동하는 방식은 장치가 측정에 사용되지 않을 때 장치 RF 신호 감지기를 입력 커넥터에서 분리하여 RF 입력 회로를 보호하는 것입니다.
- 임피던스, 반사 손실 및 삽입 손실 측정
현대 전자 설계 및 미래의 직렬 데이터 표준에 사용되는 높은 비트 전송률은 극초단파 영역까지 확장됩니다. 예를 들어 고속 범용 시리 버스(USB3.1)는 트위스트 페어 케이블을 통해 최대 10GB/s의 전송 속도를 지원합니다. 커넥터와 케이블을 통한 이러한 높은 비트 전송 속도는 채널 분산으로 인해 상당한 왜곡을 초래합니다. 왜곡을 관리 가능한 수준으로 유지하기 위해 많은 표준에서 케이블 및 커넥터에 대한 임피던스, 반사 손실 및 삽입 손실을 지정합니다. 이러한 측정은 S-파라미터로 표시됩니다. 그만큼 T3SP 시리즈는 최대 15GHz까지 완전히 보정된 차동 S-파라미터 측정을 제공합니다(T3SP15D). 이는 SI-Studio, Matlab 또는 기타 시뮬레이션 프로그램과 같은 도구에서 쉽게 사용할 수 있는 다양한 형식(CSV, Matlab 및 Touchstone)으로 출력 파일을 저장할 수 있는 유연성을 제공합니다.
- 인쇄 회로 기판(PCB)의 제어된 임피던스 트레이스
고속 디지털 시스템의 클록 속도 증가로 인해 제어된 임피던스 PCB의 필요성이 빠르게 증가하고 있습니다. 또한 케이블과 커넥터는 고주파 설계 사양과 제어 임피던스 사양을 충족해야 합니다. 그만큼 T3SP-시리즈는 PCB, 케이블 및 커넥터의 웨이브 임피던스를 매우 정확하고 편안하게 측정할 수 있도록 도와줍니다. 시중에 나와 있는 다른 시스템과 달리 T3SP-시리즈는 PCB의 특정 트레이스를 측정하도록 설계되었으며 온보드 테스트를 위해 TDR-프로브는 검증 테스트 및 조립된 PCB 디버깅을 위한 정확한 측정을 보장합니다.
T3SP T3SP15D T3SP LECROY LECROY T3SP T3SP 르크로이 르크로이 T3SP T3SP15D LECROY LECROY T3SP15D T3SP15D 르크로이 르크로이 T3SP15D
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지니어스인더스트리가 취급하는 대부분의 제품은 사업자 간 거래(B2B) 목적의 산업·연구용 전문 계측 장비입니다.
모든 제품은 주문 제작 또는 해외/본사 주문을 통해 공급되고 있으며 실제 현장/시험 환경에서 사용되는 특성상, 장비 개봉, 전원 인가, 설치/시운전, 교정(캘리브레이션) 진행 등으로 제품의 신뢰도와 가치가 달라지기 때문에 일반 소비재와 달리 단순 변심 사유의 반품·환불이 어렵습니다.
다만 초기 제품 하자(동일 모델 대비 명백한 불량, 운송 중 파손, 사양 상이 등)가 확인되는 경우에는 수령 후 [7일 이내] 연락 주시면 점검 후 조치 또는 A/S 절차를 안내해 드리고 있습니다.
단순 변심, 사양 선택 착오, 내부 사정(예: 예산/프로젝트 변경 등)과 같은 구매자 사유로 반품을 요청하시는 경우에는 반품이 제한되며, 예외적으로 협의가 진행될 경우에도 왕복 운송비, 검수 비용, 감가 비용 및 재입고 수수료 등이 청구될 수 있습니다.
구체적인 거래 조건(납기, A/S 범위, 교환 가능 여부 등)은 발행된 견적서, 발주서 확인 메일, 납품서 등에 명시된 내용을 우선합니다.
도움이 필요한 경우 견적서에 명시된 지니어스 영업부 담당자에게 문의해 주시기 바랍니다.
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T3SP15D
시간 영역 반사계
T3SP15D Time Domain Reflectometers
- <3mm 공간 분해능의 트루 차동 TDR
- 소형 폼 팩터 및 배터리 구동
- 최대 15GHz의 S-파라미터
- 35ps 상승 시간
- 최대 50,000포인트의 긴 메모리
- 시리얼 데이터 표준 테스트
- True-Differential Time Domain Reflectometers (TDRs)
최신 고속 설계의 대부분은 차동 전송 라인으로 구현됩니다. True differential TDR을 사용하면 이러한 설계에서 신호 무결성 측정을 위한 설정이 간소화됩니다. 일부 시나리오에서는 비차폐 연선 케이블을 측정하려는 경우 접지 연결을 연결하기 어렵거나 액세스할 수 없을 수 있습니다. 대부분의 경우 실제 차동 TDR을 사용하여 측정할 때 접지 연결이 필요하지 않으며 접지 연결 없이 TDR 프로브를 사용할 수 있는 유연성을 제공합니다.
- 빠른 TDR 반복 속도
최대 10MHz 반복 속도로 T3SP-시리즈는 샘플링 오실로스코프를 기반으로 하는 기존 TDR 장비보다 300배 이상 빠릅니다. 가능한 가장 높은 동적 범위를 달성하기 위해 TDR 장비는 수백 개의 파형을 획득하고 평균화해야 합니다. 더 빠른 샘플링 속도는 더 빠르고 정확한 측정 결과를 제공합니다.
- 완전히 캘리브레이션된 임피던스 플롯
모든 TDR 기기의 기준 임피던스는 상대적입니다. 반사 신호의 크기와 입사 신호의 크기를 비교하여 생성됩니다. OSLT 캘리브레이션을 모두를 사용하여 T3SP-시리즈는 시간 및 주파수 영역에서 임피던스 측정에 최고의 정확도를 제공합니다. 3 가지 교정 표준(Open, Short, Load, Thru)을 사용합니다. 일반적인 TDR 장비에서 사용되는 간단한 정규화를 사용하는 OSLT 캘리브레이션을 사용함으로써 시간 영역에서 설정에 대한 오류 수정이 크게 개선되었습니다. 시간 영역에서 OSLT 보정을 사용하면 TDR 인시던트 단계 후에 발생하는 링잉과 같은 임피던스 플롯의 불규칙성을 방지할 수 있습니다.
- 완전히 캘리브레이션된 S-파라미터
이더넷 또는 USB와 같은 많은 최신 표준에서는 주파수 영역 내에서 케이블 및 커넥터의 임피던스 정합을 측정해야 합니다. 이는 기존 VNA 장비로 일반적으로 수행되는 조치입니다. 그만큼 T3SP series는 최대 15GHz까지 완전히 캘리브레이션된 차동 S-파라미터 측정을 제공합니다(T3SP15D) VNA에서 사용하는 것과 동일한 OSLT 캘리브레이션 키트를 사용합니다.
- 즉각적인 케이블 테스트 및 긴 메모리
케이블이 완벽하다고 가정하는 것은 흔한 실수입니다. 케이블의 품질을 확인하지 않은 경우 프리미엄 케이블에도 측정 아티팩트를 일으킬 수 있는 결함이 있을 수 있습니다. 그만큼 T3SP 시리즈는 손상이나 결함으로 인해 사양을 벗어난 부품을 식별하여 케이블의 품질을 즉시 보여줍니다. SP 시리즈는 긴 DUT에서 고해상도로 긴 TDR 레코드 캡처를 제공하는 최대 50.000포인트를 획득할 수 있습니다. 또한 최대 10m 길이의 케이블을 사용하여 TDR 반복 속도를 1MHz에서 40MHz로 유연하게 변경할 수 있습니다.
- ESD 보호
고주파 측정 장치는 정전기 방전(ESD)에 극도로 민감하여 측정 장치에 영구적인 손상을 줄 수 있습니다. 또한 많은 실험실에서는 ESD로 인한 손상으로부터 전자 장비를 보호하기 위해 특별한 예방 조치를 취해야 합니다. SP 시리즈는 이러한 상황으로부터 더 높은 수준의 보호를 제공하여 이러한 위험을 완화합니다. 모든 SP 시리즈 모델에는 고성능 동축 RF 스위치를 기반으로 하는 ESD 보호 모듈이 장착되어 있습니다. 이것이 작동하는 방식은 장치가 측정에 사용되지 않을 때 장치 RF 신호 감지기를 입력 커넥터에서 분리하여 RF 입력 회로를 보호하는 것입니다.
- 임피던스, 반사 손실 및 삽입 손실 측정
현대 전자 설계 및 미래의 직렬 데이터 표준에 사용되는 높은 비트 전송률은 극초단파 영역까지 확장됩니다. 예를 들어 고속 범용 시리 버스(USB3.1)는 트위스트 페어 케이블을 통해 최대 10GB/s의 전송 속도를 지원합니다. 커넥터와 케이블을 통한 이러한 높은 비트 전송 속도는 채널 분산으로 인해 상당한 왜곡을 초래합니다. 왜곡을 관리 가능한 수준으로 유지하기 위해 많은 표준에서 케이블 및 커넥터에 대한 임피던스, 반사 손실 및 삽입 손실을 지정합니다. 이러한 측정은 S-파라미터로 표시됩니다. 그만큼 T3SP 시리즈는 최대 15GHz까지 완전히 보정된 차동 S-파라미터 측정을 제공합니다(T3SP15D). 이는 SI-Studio, Matlab 또는 기타 시뮬레이션 프로그램과 같은 도구에서 쉽게 사용할 수 있는 다양한 형식(CSV, Matlab 및 Touchstone)으로 출력 파일을 저장할 수 있는 유연성을 제공합니다.
- 인쇄 회로 기판(PCB)의 제어된 임피던스 트레이스
고속 디지털 시스템의 클록 속도 증가로 인해 제어된 임피던스 PCB의 필요성이 빠르게 증가하고 있습니다. 또한 케이블과 커넥터는 고주파 설계 사양과 제어 임피던스 사양을 충족해야 합니다. 그만큼 T3SP-시리즈는 PCB, 케이블 및 커넥터의 웨이브 임피던스를 매우 정확하고 편안하게 측정할 수 있도록 도와줍니다. 시중에 나와 있는 다른 시스템과 달리 T3SP-시리즈는 PCB의 특정 트레이스를 측정하도록 설계되었으며 온보드 테스트를 위해 TDR-프로브는 검증 테스트 및 조립된 PCB 디버깅을 위한 정확한 측정을 보장합니다.
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지니어스인더스트리가 취급하는 대부분의 제품은 사업자 간 거래(B2B) 목적의 산업·연구용 전문 계측 장비입니다.
모든 제품은 주문 제작 또는 해외/본사 주문을 통해 공급되고 있으며 실제 현장/시험 환경에서 사용되는 특성상, 장비 개봉, 전원 인가, 설치/시운전, 교정(캘리브레이션) 진행 등으로 제품의 신뢰도와 가치가 달라지기 때문에 일반 소비재와 달리 단순 변심 사유의 반품·환불이 어렵습니다.
다만 초기 제품 하자(동일 모델 대비 명백한 불량, 운송 중 파손, 사양 상이 등)가 확인되는 경우에는 수령 후 [7일 이내] 연락 주시면 점검 후 조치 또는 A/S 절차를 안내해 드리고 있습니다.
단순 변심, 사양 선택 착오, 내부 사정(예: 예산/프로젝트 변경 등)과 같은 구매자 사유로 반품을 요청하시는 경우에는 반품이 제한되며, 예외적으로 협의가 진행될 경우에도 왕복 운송비, 검수 비용, 감가 비용 및 재입고 수수료 등이 청구될 수 있습니다.
구체적인 거래 조건(납기, A/S 범위, 교환 가능 여부 등)은 발행된 견적서, 발주서 확인 메일, 납품서 등에 명시된 내용을 우선합니다.
도움이 필요한 경우 견적서에 명시된 지니어스 영업부 담당자에게 문의해 주시기 바랍니다.
