HIOKI IM3523A LCR미터
HIOKI IM3523A LCR METER
- 기본 정확도 ± 0.05%와 광범위한 측정 조건(DC 및 40Hz~200kHz, 5mV~5V, 10μA~50mA 설정 가능)
- C-D와(120Hz) ESR(100kHz) 등 조건이 다른 측정을 연속으로 실시할 경우 전체 측정 속도가 약 10배 향상 (기존제품 3532-50 비교)
- 콤퍼레이터, BIN 측정 (분류 기능) 탑재
- 측정 시간 2msec의 고속 측정
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히오키 ・ HIOKI
IM3523A
LCR미터
IM3523A LCR METER
LCR미터 IM3523A 측정 방법 : 다른 조건을 연속 측정콘덴서의 측정 조건으로 120Hx에서 C-D 측정을 하고 싶다. 100kHz에서 ESR 측정하고 싶다. 이와 같을 때 1대로 다른 조겅르 고속으로 연속측정할 수 있습니다. |
LCR 미터 IM3523A 측정 방법 : 생산 라인의 순서 변경을 부드럽게, 패널 불러오기 기능1대의 LCR미터로 여러 생산품을 대응하기 위해서는 효율 좋은 순서 변경이 요구됩니다. 수동 불러오기 외에 외부 제어 단자에서 패널 번호 불러오기를 제어할 수 있으므로 검사 라인의 자동화 구축을 단축할 수 있습니다. |
생란 라인 검사에 신뢰성을 : 컨텍트 체크 기능4단자 측정 시에 시료 간 접촉 불량을 검출 LPOT〜LCUR 사이와 HPOT〜HCUR 사이의 접촉 저항을 측정하고 측정하고 싶은 임계값 이상인 경우에 에러를 표시합니다. | ![]() |
응용 프로그램의 안내샘플 응용 프로그램의 다운로드 및 통신 커맨드의 설명서를 보실 수 있습니다. | ![]() |
정확도 계산 프로그램 안내수치를 입력하는 것만으로 간단히 정확도 계산이 가능합니다. | ![]() |
IM3523A IM3523A HIOKI HIOKI IM3523A IM3523A 히오키 히오키 IM3523A IM3523A 히오끼 히오끼 IM3523A
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IM3523A LCR METER
LCR미터 IM3523A 측정 방법 : 다른 조건을 연속 측정콘덴서의 측정 조건으로 120Hx에서 C-D 측정을 하고 싶다. 100kHz에서 ESR 측정하고 싶다. 이와 같을 때 1대로 다른 조겅르 고속으로 연속측정할 수 있습니다. |
LCR 미터 IM3523A 측정 방법 : 생산 라인의 순서 변경을 부드럽게, 패널 불러오기 기능1대의 LCR미터로 여러 생산품을 대응하기 위해서는 효율 좋은 순서 변경이 요구됩니다. 수동 불러오기 외에 외부 제어 단자에서 패널 번호 불러오기를 제어할 수 있으므로 검사 라인의 자동화 구축을 단축할 수 있습니다. |
생란 라인 검사에 신뢰성을 : 컨텍트 체크 기능4단자 측정 시에 시료 간 접촉 불량을 검출 LPOT〜LCUR 사이와 HPOT〜HCUR 사이의 접촉 저항을 측정하고 측정하고 싶은 임계값 이상인 경우에 에러를 표시합니다. | ![]() |
응용 프로그램의 안내샘플 응용 프로그램의 다운로드 및 통신 커맨드의 설명서를 보실 수 있습니다. | ![]() |
정확도 계산 프로그램 안내수치를 입력하는 것만으로 간단히 정확도 계산이 가능합니다. | ![]() |
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