HIOKI IM3570 임피던스 아날라이저
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HIOKI IM3570 임피던스 아날라이저
HIOKI IM3570 IMPEDANCE ANALYZER
- LCR 측정, DCR 측정, 스윕 측정의 연속 측정과 고속 검사를 1대로 실현
- LCR 모드에서 최속 1.5 ms(1 kHz) 및 0.5 ms (100 kHz)의 고속 측정
- 기본 정확도 ± 0.08 %의 고정밀도 측정
- 압전 소자의 공진 특성 검사, 기능성 고분자 콘덴서의 C-D와 저 ESR 측정, 인덕터(코일ㆍ스)의 DCR와 L-Q 측정 등에 최적
- 아날라이저 모드로 주파수 스윕 측정, 레벨 스윕 측정, 타임 인터벌 측정이 가능
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히오키 ・ HIOKI
IM3570
임피던스 아날라이저
IM3570 IMPEDANCE ANALYZER
임피던스 아날라이저 IM3570 측정 방법 : 압전 소자의 공진 특성 측정LCR 미터와 임피던스 아날라이저가 하나로 합쳐진 IM3570. 주파수 스윕 측정과 피크 비교 측정 기능으로 공진 상태의 양부 판정이, LCR 모드로 1kHz 및 120Hz에서의 LCR 측정에 따른 검사가 가능. 주파수 스윕 측정과 LCR 측정이 1대로 실현됩니다. |
제품 소개 동영상 |
응용 프로그램의 안내샘플 응용 프로그램의 다운로드 및 통신 커맨드의 설명서를 보실 수 있습니다. |  |
정확도 계산 프로그램 안내수치를 입력하는 것만으로 간단히 정확도 계산이 가능합니다. |  |
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임피던스 아날라이저 IM3570 측정 방법 : 압전 소자의 공진 특성 측정LCR 미터와 임피던스 아날라이저가 하나로 합쳐진 IM3570. 주파수 스윕 측정과 피크 비교 측정 기능으로 공진 상태의 양부 판정이, LCR 모드로 1kHz 및 120Hz에서의 LCR 측정에 따른 검사가 가능. 주파수 스윕 측정과 LCR 측정이 1대로 실현됩니다. |
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